Δομικός και μορφολογικός χαρακτηρισμός
Περίθλαση Ακτίνων-Χ (XRD): Ταυτοποίηση, αναγνώριση πρώτων υλών, ταυτοποίηση φάσεων, εκτίμηση δομικής καθαρότητας, κρυσταλλικότητας, μέσου μεγέθους κρυσταλλιτών, ποσοτική ανάλυση κρυσταλλικών φάσεων. Στοιχειακή ανάλυση με φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων ακτίνων Χ (XPS): ανάλυση χημικής κατάστασης και ατομικών δεσμών (Chemical bonding analysis), στοιχειακή ανάλυση συναρτήσει του βάθους (Depth profile elemental analysis), χημική απεικόνιση επιφανειών (μικρο-κλίμακα) (XPS mapping), στοιχειακή ανάλυση και/ή ανάλυση της χημικής κατάστασης αγνώστου δείγματος (πάχους- στοιχειομετρίας). Φασματοσκοπία XPS/XAES συνοδευόμενη από χάραξη των επιφανειών με ιόντα Ar+. Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM-EDS): Μελέτη μορφολογίας και απεικόνιση, εικόνες επιφανείας (plane view) και εγκάρσιας τομής (cross section), στοιχειακή ανάλυση με γραμμική σάρωση ή με χαρτογράφηση (mapping). Εξοπλισμός Φασματοσκόπιο Φωτοηλεκτρονίων Ακτίνων-Χ και Ηλεκτρονίων Auger (XPS/AES) Kratos Analytical (Shimadzu group company) Axis Ultra DLD σε συνδυασμό με Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Σάρωσης ηλεκτρονίων Auger (SAM/AES) Περιθλασίμετρα δύο Κύκλων με γεωμετρία Bragg-Brentano Rigaku Ultima Plus και Philips PW 1050 Περιθλασίμετρο δύο κύκλων με γεωμετρία Διερχόμενης Δέσμης Seifert C3000 Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (Field Emission), σειράς JSM-7610F Plus, του οίκου JEOL, ακολουθούμενο από σύστημα EDS τύπου AZTEC ENERGY ADVANCED X-act, του οίκου OXFORD Δημοσιέυσεις 1 . D. Karfaridis, L. Mihalceanu, S. Keller, K. Simeonidis, G.P. Dimitrakopulos, T. Kehagias, E.T. Papaioannou, G. Vourlias, Influence of the Pt thickness on the structural and magnetic properties of epitaxial Fe/Pt bilayers , Thin Solid Films. 694 (2020) 137716. doi:10.1016/j.tsf.2019.137716 2 . Papadopoulos, G., Asimakidou, T., Karfaridis, D., Kellartzis, I., Vourlias, G., Mitrakas, M., Simeonidis, K. An optimized Cr(VI)-Removal system using Sn-based reducing adsorbents (2019) Water (Switzerland), 11 (12), art. no. 2477. 3 . Mourlas, A., Pavlidou, E., Vourlias, G., Rodríguez, J., Psyllaki, P. Concentrated solar energy for in-situ elaboration of wear-resistant composite layers. Part I: TiC and chromium carbide surface enrichment of common steels (2019) Surface and Coatings Technology, 377, art. no. 124882. 4 . A. Touni, A. Papaderakis, D. Karfaridis, G. Vourlias, S. Sotiropoulos, Oxygen evolution reaction at IrO2/Ir(Ni) film electrodes prepared by galvanic replacement and anodization: Effect of precursor Ni film thickness , Molecules. 24 (2019) 1–16. doi:10.3390/molecules24112095.
ΦΥΣΙΚΟΧΗΜΙΚΟΣ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΜΟΣ, ΜΕΛΕΤΗ ΥΛΙΚΩΝ ΚΑΙ ΔΙΑΤΑΞΕΩΝ
Σχολή Θετικών Επιστημών Α.Π.Θ., 54124 Πανεπιστημιούπολη, Θεσσαλονίκη +30 2310 998066 gvourlia@auth.gr ΕΠΙΚΟΙΝΩΝΙΑ